LEA-S500

Мы являемся официальным дистрибьютором компании SOL instruments

Современный мощный инструмент, объединяющий инновационные технологии в области спектральной, измерительной, лазерной техники и программного обеспечения, позволяющий выполнять уникальные измерения содержания химических элементов и распределения их по поверхности образца.

Универсальность (одновременный анализ различных материалов на широкий круг элементов)
Низкая стоимость выполнения единичного анализа (практически полное отсутствие расходных материалов)
Высокая скорость анализа
Простая пробоподготовка
Высокая точность измерений
Широкий диапазон концентрации (от 0,01 ppm до десятков процентов)
Гибкость выполнения анализа (анализ образцов различной формы и размеров)

Стекло, керамика и сырье для их производства
Чистые металлы, сплавы и шлаки
Минералы, руды и продукты их переработки и обогащения
Калийные соли и удобрения
Примеси в чистых металлах
Пластмассы, каучук, резины
Природные материалы (глины, пески, доломиты)
Плодородные почвы
Перерабатываемое сырье
Химические реактивы
Лекарственное сырье
Биологические материалы
Археологические артефакты
Продукты питания
Корма для животных

Анализ легких и тяжелых элементов за одно измерение
Высокая чувствительность и прецизионность измерений в широком диапазоне концентраций
Анализ в заданных точках поверхности с помощью системы позиционирования и видеонаблюдения
Минимальное пятно анализа 50 мкм
Анализ включений, дефектов, пороков
Послойный анализ
Анализ распределения элементов по поверхности пробы с шагом сканирования от 10 мкм
Анализ проволок и трубок
Всего 100 мг образца требуется для приготовления таблетки из порошковых проб
Не требуется изменение агрегатного состояния образца
Очистка загрязненных поверхностей выполняется во время анализа

Оптическая система LEA-S500 дает возможность анализировать химический состав в малой зоне неоднородного образца и строить карту распределения химических элементов по поверхности с возможностью послойного анализа.

Карта распределения концентрации Ве на поверхности гранита, %
Измерено с разрешением 50 мкм, площадь анализа 2х2 мм

Карта распределения концентрации Na на поверхности гранита, %
Измерено с разрешением 50 мкм, площадь анализа 2х2 мм

Уникальные возможности LEA-S500 позволяют выполнять измерения концентраций химических элементов в геологических материалах, анализировать неоднородность распределения концентраций примесных элементов в сплавах металлов, определять химический состав включений и дефектов, анализировать концентрации элементов в сварных швах, измерять распределение концентраций химических загрязнений по глубине в материалах строительных конструкций.

Уникальный дизайн спектрометра обеспечивает низкие пределы обнаружения, превосходную стабильность и аналитическую точность.
Новая конструкция позволяет за одну вспышку лазера регистрировать основную часть определяемых элементов.

спектральный диапазон регистрации – 175-800 нм;

светосильная безабберационная система с фокусным расстоянием 500мм;

дисперсия от 0,5 нм/мм (для решетки 3600 шт/мм) до 1,0 нм/мм (для решетки 1800 шт/мм);

возможность работы в атмосфере буферных газов (для работы в диапазоне 175 – 193 нм).

Предел обнаружения 0,01 ppm и высокую воспроизводимость обеспечивают:

двухимпульсный наносекундный лазерный источник с частотой следования сдвоенных импульсов 20 Гц и высокой энергетической и пространственной стабильностью;

автоматическое управление энергетическими и пространственными параметрами лазера в широком диапазоне;

уникальная система регистрации кратковременных световых импульсов.

Система видеонаблюдения в реальном времени со 100-кратным увеличением

Система откачки воздуха из рабочей камеры до 10 мбар

Анализ в атмосфере воздух/Ar

Автоматический многопозиционный держатель образцов

Построение 2D карт распределения концентраций химических элементов по поверхности образца