Современное технологическое решение для использования в образовательном процессе, изучения основ, формирования навыков работы и освоения базовых методик сканирующей зондовой микроскопии в режимах АСМ/ СТМ.
Универсальный сканирующий зондовый микроскоп, реализующий более 40 методов атомно-силовой и туннельной микроскопии. Функциональные возможности базовой модели могут быть значительно расширены; микроскоп легко интегрировать с другими аналитическими методами в более сложные измерительные системы.
Сканирующий Зондовый Микроскоп для работы в условиях контролируемой атмосферы и низкого вакуума. В вакууме повышается добротность колебаний кантилевера, и увеличиваются чувствительность и точность в измерениях взаимодействия слабых сил между зондом и образцом. При этом переход от атмосферного давления к вакууму 10-2 Торр обеспечивает почти десятикратное возрастание добротности колебаний кантилевера. Дальнейшее увеличение глубины вакуума не приводит к существенному увеличению добротности.
Сканирующий зондовый микроскоп для проведения экспериментов на воздухе, в условиях контролируемой атмосферы, в условиях низкого вакуума.
Модульная система на единой программно-аппаратной платформе для решения множества различных экспериментальных задач в науках о жизни.
Одновременное и колокализованное исследование образцов методами СЗМ и микроскопии/спектроскопии комбинационного рассеяния света. Полный физико-химический анализ исследуемого образца.
Адрес ООО “НОВА СПб”
197374, г. Санкт-Петербург, ул.Савушкина 83 к.3, оф.236
+ 7 812 9300 558
Почта: info@spb-novaspb.ru
ИНН 7814780948
© 2024 ООО "Нова СПб" | Группа Компаний ООО "НТ-МДТ"
Политика конфиденциальности
