NTEGRA Academia
Современное технологическое решение для использования в образовательном процессе, изучения основ, формирования навыков работы и освоения базовых методик сканирующей зондовой микроскопии в режимах АСМ/ СТМ.
ПодробнееООО «НОВА СПБ» входит в состав группы компаний «НТ-МДТ» — производителя сканирующих зондовых микроскопов и специализированного оборудования для научных исследований и высокотехнологичных задач.
Мы предлагаем современные решения для исследования материалов с нанометровым пространственным разрешением. Оборудование группы компаний используется в научных лабораториях, образовательных учреждениях и технологических центрах.
Команда специалистов «НТ-МДТ» одной из первых в мире разработала серийный прибор, объединивший атомно-силовую микроскопию и спектроскопию комбинационного рассеяния света. Сегодня мы продолжаем развивать технологии, обеспечивающие точность, надежность и широкие возможности для исследований.
Помимо поставки новых систем, ООО «НОВА СПБ» выполняет сервисное, постгарантийное обслуживание и профессиональную техническую поддержку ранее поставленного оборудования.
Оборудование для исследований, обучения и решения специализированных измерительных задач.
Современное технологическое решение для использования в образовательном процессе, изучения основ, формирования навыков работы и освоения базовых методик сканирующей зондовой микроскопии в режимах АСМ/ СТМ.
Подробнее
Сканирующий зондовый микроскоп для проведения экспериментов на воздухе, в условиях контролируемой атмосферы, в условиях низкого вакуума.
Подробнее
Сканирующий зондовый микроскоп для проведения экспериментов на воздухе, в условиях контролируемой атмосферы, в условиях низкого вакуума. Инновационное решение для изучения магнитных материалов, в том числе во внешнем вертикальном и горизонтальном магнитное поле.
Подробнее
Универсальный сканирующий зондовый микроскоп, реализующий более 40 методов атомно-силовой и туннельной микроскопии. Функциональные возможности базовой модели могут быть значительно расширены; микроскоп легко интегрировать с другими аналитическими методами в более сложные измерительные системы.
Подробнее
Одновременное и колокализованное исследование образцов методами СЗМ и микроскопии/спектроскопии комбинационного рассеяния света. Полный физико-химический анализ исследуемого образца.
Подробнее
Модульная система на единой программно-аппаратной платформе для решения множества различных экспериментальных задач в науках о жизни.
Подробнее
Контроллер для проведения измерений методом прыжковой атомно-силовой микроскопии. Предназначен для точного управления измерительным процессом и получения данных о свойствах поверхности исследуемых образцов.
Подробнее